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Nexsa X 射線光電子能譜儀

產品特點

    標準化功能催生強大性能: 

    ·  絕緣體分析

    ·  高性能XPS性能

    ·  深度剖析

    ·  多技術聯合

    ·  雙模式離子源,使深度剖析功能得到擴展

    ·  用于 ARXPS 測量的傾斜模塊

    ·  用于儀器控制、數據處理和報告生產的 Avantage 軟件

    ·  小束斑分析

    可選的升級:可將多種分析技術集成到您的檢測分析中。式自動運行

    ·  ISS:離子散射譜,分析材料最表面1-2原子層元素信息,通過質量分辨可分析一些同位素豐度信息。

    ·  UPS:紫外光電子能譜用于分析金屬/半導體材料的價帶能級結構信息以及材料表面功函數信息

    ·  拉曼:拉曼光譜技術用于提供分子結構層面的指紋信息

    ·  REELS:反射電子能量損失譜可用于H元素含量的檢測以及材料能級結構和帶隙信息

     

    SnapMap
     

    借助 SnapMap 的光學視圖,聚焦于樣品特征。光學視圖可以幫助您快速定位感興趣區域,同時生成完全聚焦的 XPS 圖像,以進一步設置您的實驗。

     

    1.X 射線照射樣品上的一個小區域。

    2.收集來自這一小區域的光電子并將其收集于分析儀

    3.隨著樣品臺的移動,不斷收集元素圖譜

    4.在整個數據采集過程中監測樣品臺位置,這些位置的圖譜成像用來生成 SnapMap 

    應用領域 

    · 電池

    · 生物醫藥

    · 催化劑

    · 陶瓷

    · 玻璃涂層

    · 石墨烯

    · 金屬和氧化物

    · 納米材料

    · OLED

    · 聚合物

    · 半導體

    · 太陽能電池

    · 薄膜


    產品介紹

    Thermo Scientific? Nexsa? X 射線光電子能譜儀 (XPS) 系統在提供全自動、高通量的多技術分析的同時,保持研究級的高質量分析檢測結果。集成ISS、UPS、REELS、拉曼等多種分析技術于一身,用戶因此能夠進行真正意義上的聯合多技術分析,從而為微電子、超薄薄膜、納米技術開發以及許多其他應用進一步取得進展釋放潛能。

    材料分析和開發
    Nexsa 能譜儀具有分析靈活性,可最大限度地發現材料潛能。在使結果保持研究級質量水平的同時,以可選多技術聯合的形式提供靈活性,從而實現真正意義上多技術聯合的分析檢測和高通量。


    • 技術參數
    • 訂購信息
    • 附加信息
    • 價格咨詢

    · 型號:賽默飛Nexsa

    · 產地:英國

    · 品牌:賽默飛

    核心參數

    · 儀器種類:進口產品


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